Εξώφυλλο

Leakage current and defect characterization of short channel MOSFETs /

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Roll, Guntrade (Συγγραφέας)
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: Berlin : Logos Verlag Berlin, [2014]
Σειρά:Research at NaMLab ; 2
Θέματα:
Metal oxide semiconductor field-effect transistors.
Electronic books.
Διαθέσιμο Online:Click to View
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 i 4500
001 EBC5223913
003 MiAaPQ
005 20241107140346.0
006 m o d |
007 cr cnu||||||||
008 180524s2014 gw o 000 0 eng d
020 |z 9783832532611 
020 |a 9783832596668  |q (electronic bk.) 
035 |a (MiAaPQ)EBC5223913 
035 |a (Au-PeEL)EBL5223913 
035 |a (CaPaEBR)ebr11539620 
035 |a (OCoLC)1021809289 
040 |a MiAaPQ  |b eng  |e rda  |e pn  |c MiAaPQ  |d MiAaPQ 
050 4 |a TK7871.95  |b .R655 2014 
082 0 |a 621.3815284  |2 23 
100 1 |a Roll, Guntrade,  |e author. 
245 1 0 |a Leakage current and defect characterization of short channel MOSFETs /  |c Guntrade Roll. 
264 1 |a Berlin :  |b Logos Verlag Berlin,  |c [2014] 
264 4 |c 2014 
300 |a 1 online resource (242 pages). 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a computer  |b c  |2 rdamedia 
338 |a online resource  |b cr  |2 rdacarrier 
490 0 |a Research at NaMLab ;  |v 2 
588 |a Description based on print version record. 
590 |a Electronic reproduction. Ann Arbor, MI : ProQuest, 2018. Available via World Wide Web. Access may be limited to ProQuest affiliated libraries. 
650 0 |a Metal oxide semiconductor field-effect transistors. 
655 4 |a Electronic books. 
776 0 8 |i Print version:  |a Roll, Guntrade.  |t Leakage current and defect characterization of short channel MOSFETs.  |d Berlin : Logos Verlag Berlin, c2014   |h 242 pages   |k Research at NaMLab ; 2   |z 9783832532611 
797 2 |a ProQuest (Firm) 
856 4 0 |u https://ebookcentral.proquest.com/lib/kaiptc/detail.action?docID=5223913  |z Click to View 
942 |c PQEBOOK 
999 |c 201216  |d 201216 

Παρόμοια τεκμήρια